版本資訊
miniSMU 應用程式更新紀錄
miniSMU 專屬應用程式各版本的新內容。
v1.5.0
新增
- BJT 特性量測。在 Transistors 選單中新增兩項雙極性電晶體量測，NPN 與 PNP 皆適用：
- 輸出特性：掃描 VCE，同時逐步改變基極電流，繪製 IC-VCE 曲線族，並顯示每條曲線的直流增益（hFE）。
- Gummel 圖：固定 VCE，掃描 VBE，並在對數座標軸上同時量測 IC 與 IB，即時顯示 beta 曲線與理想因子。
- 兩者皆提供即時圖表、結果表格、可匯出 CSV 及複製到剪貼簿的歷史紀錄檢視器，以及導覽教學。數值請以正值（絕對值）輸入，極性由 NPN/PNP 選擇器設定。
- 可自訂的 I-V 結果表格。可選擇並重新排列 I-V Sweep 頁面及 I-V 資料檢視器中顯示的欄位，包括新增的 ISC、VMPP、IMPP 與 PMPP，以及理想因子、光電流、飽和電流與擬合品質。一鍵複製與另存為 CSV 皆依您選擇的欄位輸出。
- 電流檔位控制。量測現在可使用自動換檔或固定電流檔位。
- 更安全的韌體更新。更新工具會辨識您 miniSMU 的硬體版本，只提供或安裝專為該版本建置的韌體；裝置一旦執行過 1.5.0，就會禁止降級至低於 1.5.0 的版本（韌體 1.5.0 變更了校正資料的儲存格式）；量測進行中時也不會啟動更新。
- 適用於 Fedora、RHEL 及其他 RPM 系發行版的 Linux .rpm 套件。
改進
- macOS 26（Tahoe）：修正按鈕需長按才有反應的問題。應用程式現已改用 Electron 43，需要 macOS 12 或更新版本。
- 切換到其他頁面時，掃描會繼續執行；返回該頁面時會顯示掃描進度，「Cancel」按鈕也仍可使用。
- 電晶體掃描、MPPT 與 I-V Stability 的輸出設定與關閉程序更加可靠。
- 掃描在與裝置通訊發生錯誤時更加穩定。
修正
- 提升 MPPT、I-V Stability 與 I-V 性能指標的準確度與一致性。
- 修正掃描點的處理問題，包括電晶體遲滯掃描與步進掃描。
- 提升資料匯出、剪貼簿複製與工作階段檔案的可靠性，並在發生問題時顯示清楚的錯誤訊息。
- 整體穩定性改進。
附註
- IMPP 與 PMPP 現在依電池的有效面積，以絕對值（mA 與 mW）回報，JSC 則一律以正值回報。橫跨此次升級的穩定性量測，其儲存的 JSC 數列可能出現正負號變化。
- 舊版工作階段檔案可正常開啟，並會自動升級。以 1.5.0 儲存的檔案仍可在 1.4.x 中開啟，但新增的資料會被略過。
v1.4.0
新增
- macOS 版本（Apple Silicon）。
- Wi-Fi 連線新增靜態 IP 位址選項。需要韌體版本 1.4.6
- 軟體功能導覽教學
- 錯誤回報與功能建議表單
- 適用於一般非太陽能電池元件（電阻、二極體、憶阻器等）的 I-V 掃描模式：
- 自訂電壓與電流掃描點。
- 以對數刻度繪製電流絕對值。
- [Beta] 電阻與二極體的預測性能指標。
修正
- I-V Stability 量測現在可在低光照條件下，正確套用 VMPP 作為維持條件。
